JTAG стандарт подключения микросхем для тестирования отладки и программирования
- Информация о материале
- Категория: Техподдержка
- Опубликовано: 22.04.2023, 07:59
- Автор: DenBahus
JTAG (eng. Joint Test Action Group «джей-тáг») — название рабочей группы по разработке стандарта IEEE 1149.
JTAG ассоциируется с аппаратным интерфейсом.
Официальное название стандарта Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.
Интерфейс JTAG предназначен для подключения сложных цифровых микросхем или устройств уровня печатной платы к стандартной аппаратуре тестирования и отладки.
Сейчас интерфейс JTAG стал промышленным стандартом. Практически все сложные микросхемы оснащаются JTAG интерфейсом.
Назначение интерфейса JTAG
- выходной контроль микросхем при производстве
- тестирование собранных печатных плат
- прошивка микросхем с памятью
- отладочные работ при проектировании аппаратуры и программного обеспечения
Метод тестирования стандарта JTAG называется Boundary Scan (граничное сканирование). В микросхеме выделяются функциональные блоки, входы которых можно отсоединить от остальной схемы, подать заданные комбинации сигналов и оценить состояние выходов каждого блока.
Процесс считывания, прошивки и отладки производится специальными командами по интерфейсу JTAG, при этом никакого физического вмешательства не требуется.
Разработан стандартный язык управления данным процессом — Boundary Scan Description Language (BSDL).
Стандарт JTAG предусматривает возможность подключения большого количества устройств (микросхем) через один физический порт (разъем).
Порт тестирования (TAP — Test Access Port) представляет собой четыре или пять выделенных выводов микросхемы: ТСК, TMS, TDI, TDO и (опционально) TRST.
Функциональное назначение линий порта тестирования интерфейса JTAG:
- TDI (test data input — «вход тестовых данных») — вход последовательных данных периферийного сканирования. Команды и данные вводятся в микросхему с этого вывода по переднему фронту сигнала TCK;
- TDO (test data output — «выход тестовых данных») — выход последовательных данных. Команды и данные выводятся из микросхемы с этого вывода по заднему фронту сигнала TCK;
- TCK (test clock — «тестовое тактирование») — тактирует работу встроенного автомата управления периферийным сканированием;
- TMS (test mode select — «выбор режима тестирования») — обеспечивает переход схемы в/из режима тестирования и переключение между разными режимами тестирования.
- В некоторых случаях к перечисленным сигналам добавляется сигнал TRST для инициализации порта тестирования, что необязательно, так как инициализация возможна путём подачи определённой последовательности сигналов на вход TMS.
Работа средств обеспечения интерфейса JTAG подчиняется сигналам автомата управления, встроенного в микросхему. Состояния автомата определяются сигналами TDI и TMS порта тестирования. Определённое сочетание сигналов TMS и TCK обеспечивает ввод команды для автомата и её исполнение.
JTAG программаторы отладчики
- ARM-JTAG, Программатор-отладчик
- Blaster V2 JTAG программатор USB
- JLINK V9.6
- USB Blaster Mini